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CM174
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  • 产品名称：CM174
  • 产品类别：测试与计量测试设备
  • 厂商名称：FLIR
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产品介绍
FLIR CM174能够识别普通钳形表无法发现的问题。FLIR CM174采用IGM红外成像引导测量技术，集成FLIR Lepton®热成像传感器，提供一种在安全距离内识别热点和过载电路的可靠方式。红外成像引导测量技术明确引导您发现潜在电气问题的精确位置，通过丰富功能和温度读数助您确认发现结果。
技术参数
 
概述

红外分辨率

 

80×60（4,800像素）

尺寸（长×宽×高）

 

43×89×241 mm

灵敏度

 

150 mK

 

保修

 

0年整机和探测器保修*

照明灯

 

支持

重量

426 g

 

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